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机译:测试电容器特性对铁电薄膜的压电和介电测量的影响
ferroelectric capacitors; ferroelectric thin films; interface structure; bulk ferroelectrics; capacitor size; critical electrode size; dielectric response; elastic silicon substrate; film-on-substrate system; film-substrate interface; piezoelectric response; polari;
机译:基于原子力显微镜的方法同时测量纳米级铁电电容器的压电和介电响应
机译:基于电容器的介电常数测量的数字电容器中的导体损耗分析
机译:层界面参数对BSTO铁电薄膜平面电容器介电特性的影响
机译:断路器分流电容器介电损耗测量的影响因素及对策:断路器分流电容器介电损耗测量的影响因素及对策
机译:利用同步加速器X射线微衍射研究铁电薄膜电容器中的铁电和压电。
机译:平行平面测试电容器中介电损耗和介电常数的测量
机译:Si衬底上溅射PZT薄膜的介电,铁电和压电特性:膜厚和取向的影响
机译:采用介电液体开关的低电感,电压脉冲系统 - 应用于铁电体中电容放电和极化反转的测量