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机译:由于测试夹具特性不准确而导致的去嵌入错误
Data Center and Connected Systems Group, Intel Corp. 2111 NE 25th Ave. Hillsboro, OR 97124 U.S.A;
Coaxial cables; Electromagnetic compatibility; Error analysis; Loss measurement; Measurement uncertainty; Scattering parameters;
机译:非对称夹具去嵌入的时域通道表征(TCC)的设计标准和误差敏感性
机译:关于“去嵌入用于封装特性的PCB夹具”的评论
机译:手动肌肉测试的常见错误和临床指南:“手臂测试”和其他不准确的程序
机译:基于夹具统计电路模型的实用去嵌入误差分析方法
机译:两端口微带测试夹具的设计和实现,用于高达50 GHz的生物材料的复介电常数表征和近场成像。
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