机译:片上老化传感器电路,用于可靠的纳米MOSFET数字电路
SchoolofElectronicEngineering,DaeguUniversity,Gyeongsan,SouthKorea;
Aging; degradation; hot carrier injection (HCI); negative bias temperature instability (NBTI); reliability;
机译:片上MOSFET温度传感器,用于RF电路的电特性分析
机译:使用VCDL和时间数字转换器的MOSFET阈值电压高通量片上变化监测电路
机译:纳米工艺下MOSFET漏电流在参考电路中的研究与应用
机译:纳米数字电路中的片上老化预测电路
机译:用于高速低功耗模数转换器的集成电路设计技术和传感器接口电路的片上校准
机译:用于传感器调节系统的数字可编程模拟电路
机译:最小能量亚阈值电路中的纳米mOsFET变化
机译:具有片上读出电路的硅色传感器