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Pushing the limits of acoustics at the nanoscale using femtosecond transient interferometry

机译:使用飞秒瞬态干涉法将声学极限推向纳米级

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摘要

Picosecond acoustics is the perfect technique for measuring elastic properties at nanoscale. But there still are some limitations to reach in-plane properties of ultra-thin films related to optical detection of ultra-high frequency surface acoustic waves. Here, we demonstrate that it is possible to push the limits of the technique using an interferometric detection instead of a usual reflectometry scheme. The experimental observations are supported by a simple model which explains from where comes the previous limitations and why it is possible to overcome it using the interferometric setup. Thanks to those results, it is possible to excite and detect very high frequency surface acoustic waves confined in ultra-thin layer using conventional femtosecond laser and optical setup.
机译:皮秒声学是用于测量纳米级弹性的完美技术。但是,与超高频表面声波的光学检测相关的超薄膜的面内性能仍然存在一些限制。在这里,我们证明可以使用干涉检测代替常规的反射测量方案来突破技术的局限性。实验观察得到一个简单模型的支持,该模型解释了以前的局限性从何而来,以及为什么可以使用干涉仪设置来克服它。由于这些结果,使用传统的飞秒激光和光学装置可以激发和检测局限于超薄层的甚高频表面声波。

著录项

  • 来源
    《Applied Physics Letters》 |2014年第23期|1-3|共3页
  • 作者单位

    Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie, Unité Mixte de Recherche, CNRS 8250, Avenue Poincaré, CS 60069, F-59652 Villeneuve d'Ascq Cedex, France;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
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