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Band engineered epitaxial Ge-Si_xGe_(1-x) core-shell nanowire heterostructures

机译:带工程外延Ge-Si_xGe_(1-x)核壳纳米线异质结构

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摘要

We report the growth of germanium (Ge)-silicon-germanium (Si_xGe_(1-x)) epitaxial core-shell nanowire (NW) heterostructures, with tunable Si and Ge shell content. The Ge NWs are grown using the vapor-liquid-solid growth mechanism, and the Si_xGe_(1-x) shells are grown in situ, conformally on the Ge NWs using ultrahigh vacuum chemical vapor deposition. We use transmission electron microscopy to demonstrate epitaxial shell growth, and scanning energy dispersive x-ray spectroscopy to determine the shell thickness and content. The Si and Ge shell content can be tuned depending on the SiH_4 and GeH_4 partial pressures during the shell growth, enabling band engineered core-shell NW heterostructures.
机译:我们报告锗(Ge)-硅锗(Si_xGe_(1-x))外延核-壳纳米线(NW)异质结构的增长,其中Si和Ge壳的含量可调。使用汽-液-固生长机制生长Ge NW,并使用超高真空化学气相沉积在Ge NW上共形地原位生长Si_xGe_(1-x)壳。我们使用透射电子显微镜来证明外延壳的生长,并使用扫描能量色散X射线光谱法确定壳的厚度和含量。可以根据壳生长期间的SiH_4和GeH_4分压来调整Si和Ge壳含量,从而实现能带工程化的核壳NW异质结构。

著录项

  • 来源
    《Applied Physicsletters》 |2009年第3期|033101.1-033101.3|共3页
  • 作者单位

    Microelectronics Research Center, University of Texas, Austin, Texas 78758, USA;

    Microelectronics Research Center, University of Texas, Austin, Texas 78758, USA;

    Microelectronics Research Center, University of Texas, Austin, Texas 78758, USA;

    Microelectronics Research Center, University of Texas, Austin, Texas 78758, USA;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

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