首页> 中文期刊> 《科技管理研究》 >基于专利地图的薄膜太阳能领域专利引证分析

基于专利地图的薄膜太阳能领域专利引证分析

         

摘要

The paper analyzes high cited patent of Japan semiconductor energy laboratory in the field of thin film solar by Aureka Citation Tree and Aureka Theme Scape. It obtaines a lot of patent information, such as the whole distribution of technology, development trends of technology and patent technologies between companies and other competitors hy the citation analysis mentioned above. The result is very helpful to make research and development strategy in seeking the direction of technological development and avoid the risk of patent violation for Chinese enterprises.%利用Aureka分析软件的专利引证树和专利地图对国外薄膜太阳能领域的专利进行分析,并对日本半导体能源实验室的高被引证专利进行专利引证树分析,得到了被引专利的技术总体分布、技术发展历程、目标公司及竞争对手布局分析.该研究结果可为我国薄膜太阳能领域相关企业制定研发策略、寻求技术发展方向和规避专利侵权风险提供帮助.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号