X-射线能谱分析实践

摘要

＜正＞ 一般常用的X射线能谱范围内,si（Li）探测器分辨率较晶体分光低一个数量级,谱线的重叠现象更为普遍。如何辨认和处理能谱谱线的重叠是保证能谱分析中定性分析的准确性和减少定量分析误差的关键。尽管采用电子计算机对重叠谱线和各种:干扰因素进行子数学处理和校正,然而在许多情况下还要凭人们的验经作最后的辨认和处理。否则,往往引起漏测元素或把重叠谱线误定为某个元素的特征X射线,从而造成定量分析的误差。