多种类型地质样品中主要和次要元素的X-射线荧光光谱测定

摘要

＜正＞ X射线荧光光谱法（XRF）是地质样品中主要,次要组分分析的有力手段。地质样品种类很多,来源不同,各元素含量范围变化大,为了充分发挥仪器的效能,提高方法的适应性,有必要制定一个能适应于多种类型样品分析的方法。