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刘义为; Moulder J F; Vlasak P R; 蒋致诚; JIANG Zhi-cheng;
广东省东莞市新科磁电厂MTE部;
Physical Electronics PHI;
6509 Flying Cloud Drive;
Eden Prairie;
Visiting Professor from Lanzhou Institute of Chemical Physics;
Chinese Academy of Science;
XPS; TOF-SIMS; 硬盘驱动器; 磁头; 磁臂焊接位; 表面有机微污染物; 分析方法;
机译:DNA芯片的表面化学分析:XPS和ToF-SIMS在骨灰级规模的表面化学成像中的应用
机译:DNA微阵列的表面化学分析:XPS和TOF-SIMS在URN尺度上的表面化学成像中的应用
机译:硬盘驱动器:HDD磁头磨损评估技术的趋势
机译:XPS和TOF-SIMS在PCB封装分层研究中的应用
机译:飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)和X射线光电子能谱(XPS)在研究遗传工程蛋白与贵金属膜之间的相互作用中的应用。
机译:XPS和ToF-SIMS对聚合物共混物的表面表征
机译:用于定位硬盘驱动器磁头的静电微致动器
机译:复合曲面上H exp - ,D exp - 离子的生成及其在表面/等离子体源系统中的应用
机译:具有垂直上下磁头分配功能的双垂直磁记录(PMR)刻录机应用程序,可在硬盘驱动器(HDD)中获得最佳的面密度
机译:PZT微致动器在硬盘驱动器磁头万向节组件中的应用方法和机理
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