首页> 中文期刊> 《光学精密工程》 >低阻测量中消除线电阻和接触电阻的原理及实现

低阻测量中消除线电阻和接触电阻的原理及实现

         

摘要

论述了有源电桥在刻蚀低电阻时的测量原理及其方法,提出在低阻测量时消除线电阻及其接触电阻的方法,对测量精度进行了分析,对低阻测量及其控制有一定的参考价值.

著录项

  • 来源
    《光学精密工程》 |2000年第5期|491-496|共6页
  • 作者单位

    中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,吉林,长春,130021;

    长春五五所,吉林,长春,130012;

    中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,吉林,长春,130021;

    中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,吉林,长春,130021;

    中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,吉林,长春,130021;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 电气测量技术及仪器;
  • 关键词

    电桥; 电阻; 测量;

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号