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一种采用微硅片狭缝的新型微小型光纤光谱仪

         

摘要

研制了一种采用微硅片狭缝代替传统机械狭缝的微小型光纤光谱仪.采用MEMS(微机电系统)工艺制造出了体积小、厚度薄的一体式微硅片狭缝,并分析了微硅片狭缝的狭缝不平直度对微小型光纤光谱仪分辨率的影响,通过测试系统分辨率的实验,验证了采用微硅片狭缝的可行性.同时,对微小型光纤光谱仪的光谱带宽和像元分辨力进行了讨论,为波长的标定提供了一种理论依据.通过对采集的汞灯谱线的分析和MATLAB的精确计算,验证了所提出的通用波长-像元迭代公式的正确性,从而研制出了一种采用微硅片狭缝的半峰全宽为0.85 nm,波长标定精度小于0.2 nm,体积为50 mm×46 mm×14 mm的微小型光纤光谱仪.

著录项

  • 来源
    《光学精密工程》 |2005年第6期|637-642|共6页
  • 作者单位

    中国科学院,长春光学精密机械与物理研究所,应用光学国家重点实验室,吉林,长春,130033;

    中国科学院,研究生院,北京,100039;

    中国科学院,长春光学精密机械与物理研究所,应用光学国家重点实验室,吉林,长春,130033;

    中国科学院,长春光学精密机械与物理研究所,应用光学国家重点实验室,吉林,长春,130033;

    中国科学院,长春光学精密机械与物理研究所,应用光学国家重点实验室,吉林,长春,130033;

    中国科学院,长春光学精密机械与物理研究所,应用光学国家重点实验室,吉林,长春,130033;

    中国科学院,长春光学精密机械与物理研究所,应用光学国家重点实验室,吉林,长春,130033;

    中国科学院,研究生院,北京,100039;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 光谱测量;
  • 关键词

    微硅片狭缝; 微小型光纤光谱仪; 微光机电系统; 分辨率; 波长标定公式;

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