泛华测控携边界扫描技术的电路板测试台出席PXI TAC 2016

摘要

作为PXI行业年度盛会的PXI技术和应用论坛（PXI Technology and Application Conference，简称PXI TAC）于6月16日在上海举办。泛华测控作为在国内率先应用PXI技术为客户提供测试测量解决方案的先锋企业，此次携基于PXI总线的便携式振动分析仪（便携式测试平台PSTU-9106）及电路板标准测试台参加了活动。