泛华测控崭新姿态亮相上海IAC展会

摘要

2008年6月4日，第12届国际工业自动化与控制技术展览会以及第12届中国国际传感器、测试测量展览会将在上海光大会展中心开幕。泛华测控将以崭新的姿态亮相此次IAC展会，不仅携带其独家代理的美国国家仪器的产品，并且还将隆重展示其基于公司“柔性测试”技术开发设计的专门用于传感器测试方面的专业测试解决方案——汽车传感器测试系统。