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铂薄膜电阻温度传感器封装研究

         

摘要

封装可以保护铂薄膜电阻温度传感器避免机械损伤,减弱薄膜高温下热挥发和团聚现象,提升器件综合性能.设计了一种玻璃釉料/高温陶瓷胶/氧化铝3层复合封装结构.通过合理设计封装结构,选择封装材料,优化封装工艺,调节各层材料热膨胀系数(Coefficient of Thermal Expansion,CTE),减小了热应力,提升了封装可靠性.根据CTE和熔融温度加和性系数计算法则设计玻璃成分,制备玻璃粉末,优化玻璃釉料黏度,制备玻璃釉料.通过对玻璃粉末进行热分析,研究烧结温度对玻璃的影响,设计玻璃釉料烧结曲线,完成铂薄膜电阻封装.实验发现封装层结构致密,封装后电阻响应时间较短,封装提升了电阻温度系数(Temperature Coefficient of Resistance,TCR)和高温(850°C)稳定性.研究表明这种封装结构有利于提升电阻温度传感器的综合性能.该研究对铂薄膜电阻封装具有指导价值.

著录项

  • 来源
    《测控技术》 |2021年第11期|48-56|共9页
  • 作者单位

    上海交通大学微米/纳米加工技术国家级重点实验室 上海200240;

    上海交通大学微米/纳米加工技术国家级重点实验室 上海200240;

    上海交通大学微米/纳米加工技术国家级重点实验室 上海200240;

    航空工业北京长城航空测控技术研究所 北京101111;

    航空工业北京长城航空测控技术研究所 北京101111;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 TP212;
  • 关键词

    铂薄膜; 电阻温度传感器; 封装; TCR; 稳定性;

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