平行光多重全息测位移

摘要

本文研究用平行光多重全息术分析测量物体表面三维位移场的新技术。着重从理论上研究了光学系统中可能发生的各种光学元件的偶然运动(如物光光源、参考光光源和干版等的运动)对多个双曝光干涉图的记录和三维位移分析的影响,并导出了有关的分析公式。该式表明,各个光学元件的偶然运动确实对干涉图的记录和分析结果存在着较大的影响。该结论被我们的实验所证明。