扫频测量在GMI效应测试中的应用

摘要

对磁性材料巨磁阻抗(GMl)效应的研究需要测试其在不同频率下的GMI曲线,而用传统GMI测试方法构建的系统在单次测试中只能得到单个频率下的GMI曲线,因此需要多次测试才能得到材料在不同频率下的GMI曲线,测试效率十分低下.将扫频测量方法引入GMI效应的测试中,分析了GMI效应扫频测量的原理,并应用于LabVIEW软件编写的GMI测试系统程序.通过对Vitrovac6025带材的GMI效应进行对比测试实验,发现该扫频测量方法测得的GMI效应曲线与其他文献测试结果一致,并且该方法可以在单次测试中实现被测材料的多个频率下GMI效应的同时测量,从而大大减少了GMI测试所耗费的时间,提高了测试效率.