光路可调的红外透射方法检测键合质量

摘要

基于红外透射原理,采用调节光路的冷光源方法搭建了晶片键合界面的质量检测系统.利用该系统可以很好的实现GaAs,InP材料的键合界面检测和刀片分离时的在线监测,同时本文以GaAs基分布布拉格反射镜(DBR)和InP基有源区键合为例,结合红外透视图像和薄膜转移照片分析,对键合表面处理方法进行了优化选择.试验表明该检测系统数据可靠,使用方便,为晶片键合条件及参数优化提供了实用平台.