嵌入式API测试套生成方法和技术

摘要

随着嵌入式计算机系统应用的不断扩展,嵌入式系统的可靠性引起了学术界和工业界的广泛关注,也提出了很多增进可靠性的方法和技术.然而,现有的方法和技术在测试套生成方面论述不多,所以在处理大批量嵌入式系统测试工作中遇到了挑战.讨论抽象测试套生成方法和适配技术,提出了LTS(labeled transition system)到BT(behavior tree)的转换算法,从而使TTCN(test and testing control notation)测试套可以通过转换嵌入式软件的LTS描述产生.还介绍了基于上述转换算法的嵌入式软件测试工具包,以及一个嵌入式物联网识读器测试案例研究.