IOA—TAI综合参数测试仪的研制

摘要

cqvip:本文介绍集成运算放大器及TTL与非门综合参数测试仪的原理及其理论分析,并附有该仪器的实际测试结果。 该仪器下仅能够测试国内外各种集成运算放大器的10项参数及TTL与非门的8项直流参数,而且,还能快速测定被测元件的好坏。同时,为线路故障的检查提供了极为方便的工具,对提高工作效率具有重要意义。