一种可编程的老化感知触发器设计

摘要

随着云计算和大数据时代的到来,人们对集成电路可靠性的要求越来越高.再加上晶体管尺寸及栅氧厚度的不断缩小,NBTI效应已经成为影响集成电路可靠性的重要因素.针对这一问题,提出了一种可编程的老化感知触发器,目的是为了监控老化效应,避免老化引起的故障.这种设计将有效地提高老化预测的准确性.