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直线拟合边缘检测法在光电自准直仪中的应用

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CCD的分辨率是影响新型光电自准直仪测量精度的关键因素,而边缘检测法是CCD位移测量的主要方法.对数字图像处理中直线拟合边缘检测法进行了详细介绍,并将其应用于高精度一维光电自准直仪的研制.

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来源
《大地测量与地球动力学》 |2005年第1期|127-130|共4页
作者
杨博雄; 胡新和; 傅辉清; 陈志高; 欧同庚; 刘海波; 郑勇;
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作者单位

中国地震局地震研究所,武汉,430071;

地壳运动与地球观测实验室,武汉,430071;

湖北咸宁职业技术学院,咸宁,437100;

中国地震局地震研究所,武汉,430071;

地壳运动与地球观测实验室,武汉,430071;

中国地震局地震研究所,武汉,430071;

地壳运动与地球观测实验室,武汉,430071;

中国地震局地震研究所,武汉,430071;

地壳运动与地球观测实验室,武汉,430071;

中国地震局地震研究所,武汉,430071;

地壳运动与地球观测实验室,武汉,430071;

中国地震局地震研究所,武汉,430071;

地壳运动与地球观测实验室,武汉,430071;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类数据处理、数据处理系统;
关键词
CCD细分亚像素定位边缘检测直线拟合光电自准直仪;

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