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基于方差分析周期叠加外推法的电离层TEC短期预报研究

         

摘要

将数理统计中的方差分析周期叠加外推法应用于电离层短期预报,并采用IGS提供的电离层TEC数据进行了算法验证.分别利用不同地理位置的30天、40 天和50 天的数据进行分析预报,结果表明拟合精度为0.8 TECU左右;在电离层变化平缓的情况下,预报精度不与数据长度成正比,而与经纬度有关.

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