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徐富新; 刘应; 刘雁群; 向超;
中南大学物理与电子学院,湖南长沙,410083;
Nand flash存储器; 纠错电路; 可配置模式; BCH码; 现场可编程门阵列;
机译:参数可配置的瞬态压力存储测试系统设计与实现(英文)
机译:可编程和可配置嵌入式系统设计与实现的实验室项目
机译:混合存储中存储类存储器和NAND闪存适用的纠错代码强度分析
机译:具有多模式BCH纠错的NAND闪存的区域有效重编码方案
机译:RECFEC:可重新配置的前向纠错引擎。
机译:绝非偶然:遗传密码会冻结在标准遗传密码的纠错模式中。
机译:ROY自适应模式与NANDA护理诊断分类学之间的关系ROY自适应模式与NANDA护理诊断分类学之间的关系ROY适应模式与NANDA护理诊断学分类之间的关系
机译:具有79.5°sWEEpBaCKnaND和45°DIHEDRaL的加工角度重建配置的静态纵向稳定性特征,其齿轮强度为6.2纳米,最大攻角为20°
机译:NAND闪存控制器中的纠错码(ECC)选择具有多个纠错码
机译:具有可配置纠错模式的内存设备
机译:具有可配置内部纠错模式的内存设备
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