鲁米诺在SnS/ITO电极上的ECL行为及其在SOD测定中的应用

摘要

本文通过阴极恒电位方法在ITO电极上修饰SnS薄膜,优化了镀膜条件并对修饰电极通过SEM、电化学等性能进行了表征.研究了鲁米诺在SnS/ITO修饰电极上的ECL行为,研究发现SnS的存在可以促进ECL的增强,ECL的强度同鲁米诺的浓度成正比,鲁米诺的最低检测限可达到3.9×10-11mol/L.另外,基于超氧化物歧化酶(SOD酶)可以抑制鲁米诺的电致化学发光的原理,利用该修饰电极建立了一种SOD测定ECL方法,测定的线性范围为2.4×105U/L～2.16×106 U/L,最低检测限为1.5×106 U/L.