首页> 中文期刊> 《装备制造技术》 >X射线底片常见伪缺陷及其预防措施

X射线底片常见伪缺陷及其预防措施

         

摘要

本文对由于暗室处理不当而引起的底片质量问题进行了归纳和总结,分析了常见底片伪缺陷的种类、产生原因、识别方法,提出了一些预防措施和解决方法.

著录项

  • 来源
    《装备制造技术》 |2015年第7期|264-266|共3页
  • 作者

    刘俊华; 闵立强; 侯佼;

  • 作者单位

    宁夏共享集团股份有限公司(宁夏先进铸造技术重点实验室),宁夏银川750021;

    宁夏共享集团股份有限公司(宁夏先进铸造技术重点实验室),宁夏银川750021;

    宁夏共享集团股份有限公司(宁夏先进铸造技术重点实验室),宁夏银川750021;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 无损探伤;
  • 关键词

    X射线底片; 伪缺陷; 预防; 无损探伤;

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号