一种基于ATE的SerDes物理层测试方法

摘要

串行传输技术特别是串行解串器(SerDes)能提供比并行传输技术更高的带宽,被广泛应用于嵌入式高速传输领域.SerDes物理层的测试需要设备的带宽大于信号速率,测试指标高且测试端口接入会对信号产生影响.大多数厂商采用仪器仪表与评估板来评估待测器件(DUT)的方式效率低下,只适用于产品评估阶段.基于自动测试设备(ATE)与可测性设计(DFT)相结合的方式,采用高速串行接口源同步测试技术、测试通路校准与补偿等技术,对SerDes产品的功能、发送和接收端参数进行全面的测试,实现高速接口的快速准确测试,并可适用于其他同类SerDes芯片测试.