基于PXA255A0E400的测试系统设计与实现

摘要

本文主要介绍了一款基于PXA255A0E400处理器的最小测试系统的设计与实现,然后基于自动化测试设备(ATE:J750-HD)对PXA255A0E400芯片进行测试。通过芯片的JTAG仿真口下载功能代码以及ATE设备在线测试代码编写,一次性从检验器件ID到完成对芯片的直流参数、交流参数、逻辑功能的测试,以及片外存储器的写入与擦除。通过该项目建立的一套完整的测试流程,形成了一个稳定的测试系统平台,并实现了产品的工程测试量产,通过验证测试结果基本达到了预期目标。外部存储器存储代码使得测试人员无需对PXA255A0E400芯片进行写入与擦除,大大的缩短了芯片的测试时间,节约了公司的人工成本。