首页> 中文期刊> 《电子技术与软件工程》 >基于UHF局放检测技术的开关柜内部绝缘缺陷分析

基于UHF局放检测技术的开关柜内部绝缘缺陷分析

         

摘要

本文介绍了一起仅有特高频局放异常表征的开关柜穿柜套管内部绝缘缺陷案例,通过局放信号特征与试验解体情况分析对比,找到了故障原因,并提出了开关柜特高频局放异常时的检修建议。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号