晶振失效故障分析

         

摘要

本文通过对无输出晶振的失效分析,确定了失效原因。由于该晶振内部锁相倍频集成芯片性能不良导致。使用有延时的DC-DC电源对晶振进行加电测试,发现失效问题,可在早期解决这一问题。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号