退出
我的积分:
中文文献批量获取
外文文献批量获取
短期试验; 芯片; 可靠性; 光互连; 深亚微米晶体管;
机译:负偏置温度不稳定性(NBTI)和热载流子在超深亚微米p沟道金属氧化物半导体场效应晶体管(PMOSFET)中的作用
机译:深亚微米芯片中的毫米波无线互连:挑战与机遇
机译:短时间测试统计模型的高性能芯片可靠性,可用于光互连和HCI / TDDB / NBTI深亚微米晶体管故障
机译:深亚微米集成电路的互连建模,信号完整性和可靠性分析。
机译:基于晶体管关联技术的深亚微米EGFET用于化学传感
机译:高性能深亚微米IC的全局互连的调整策略
机译:深亚微米互连的可靠性问题
机译:用于深亚微米设计的互连和晶体管可靠性分析
机译:深亚微米设计的互连和晶体管可靠性分析
机译:确定亚微米金属互连失效时间的方法
抱歉,该期刊暂不可订阅,敬请期待!
目前支持订阅全部北京大学中文核心(2020)期刊目录。