X射线荧光光谱薄膜法测定多金属矿样中常量Pb、Zn、Cu、Fe、Mn

摘要

本文拟定了一个Ｘ射线荧光光谱薄膜测定常见铅、锌、铜、锰矿中０．２～ｘｘ％Ｐｂ、Ｚｎ、Ｃｕ、Ｆｅ、Ｍｎ的方法。实验考察了制片重现性和样品分解可靠性对本法结果的关键性影响，采用酸溶、钒作内标、Ｍｙｌａｒ膜制片测量。手续简便、方法精密度和准确性符合有色地质分析质量要求。