结合白光光弹和相移技术解包裹等差线的方法

摘要

根据条纹色彩的变化确定等差线级数,是一种普遍应用的白光光弹方法。另一种具有较高的精度、操作简便,被广泛应用的光弹技术是相移法。由于色彩特征变弱,白光光弹用于辨识三级以下的等差线条纹。相移法得到的等差线都是包裹的相位,并非等差级数,解包裹等差线也是一项复杂的工作。根据受力构件中应力是连续变化的性质,将白光光弹和相移技术相结合,得到一种解包裹全场等差线的新方法。所述的解包裹方法不依赖于零级条纹,不需要确定零级条纹。最后通过分析径向受压的圆盘,演示了解包裹的新方法。