基于k/n(G)模型的STATCOM装置可靠性分析

摘要

提出了STATCOM装置的k/n(G)可靠性模型及其基本分析方法。利用k/n(G)可靠性模型定量描述了主电路拓扑结构的多重化冗余设计所取得的可靠性效益。采用文献提供的IGCT、GTO和IGBT器件可靠性参数,定量计算了某实际应用的50MVA STATCOM装置可靠性指标,并对STATCOM装置结构的优化设计进行了分析;探讨了考虑元件故障率变化的STATCOM动态k/n(G)可靠性模型的基本分析方法。