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TeO2单晶体沿001直拉生长时容易出现系属结构缺陷的讨论

         

摘要

对于沿[001]生长的TeO2单晶体,在生长过程中,常常观察到原生晶体在[001]和[010]生长稜附近,平行于生长轴出现有线条、线族.对这种结构缺陷的组态进行了研究,从微观结构分析得出这种线条、线族结构是对晶体生长轴旋转了一个小的晶体方向的微小晶粒的集合体,我们测得的旋转角大约在1°左右.从位错理论来解释所出现的这种晶体方向错乱引起的小角晶界现象,明确了这种结构缺陷是所谓的系属结构(Lineagestructure)缺陷.通过对晶体生长界面形态观察,从界面形态的差異(沿[001]轴向生长和沿[110]轴向生长的生长界面形态差異)讨论了晶体的生长机制,认为系属结构缺陷的发生与TeO2晶体直拉生长时选择的拉晶轴向有很大的关系.

著录项

  • 来源
    《压电与声光》 |1979年第6期|7-12|共6页
  • 作者

    蔡起善; 申季学; 张孙民;

  • 作者单位

    一四二六研究所;

    一四二六研究所;

    一四二六研究所;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类
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