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TeO2晶体在正交偏光下的干涉图花样

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本文通过不同方法确定了透明的TeOz晶体在正交偏光下出现的各种干涉图花样与缺陷类别及其数量严重程度之间的对应关系,并提出了根据干涉图花样来分析晶体的缺陷进而检测晶体的光学性能的方法.

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来源
《压电与声光》 |1980年第5期|5-10|共6页
作者
孙向明;
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作者单位

一四二六研究所五室;

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正文语种 chi
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