比较法测量晶体的电光系数

尹鑫; 邵宗书

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我们用一台旋光仪,以DKDP晶体纵向电光效应所引起的光程变化补偿其它晶体的电光效应所引起的光程变化,提供了一种简单、迅速和高灵敏度地测量晶体半波电压和电光系数的方法.采用此方法测量了典型的电光晶体ADP和KDP的横向与纵向半波电压和相应的电光系数γ63,以及LiNbO3;晶体的横向半波电压与相应的电光系数γ22.实验结果与其他方法的测量值及文献报道的值基本一致.

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来源
《压电与声光》 |1987年第6期|39-4255|共4页
作者
尹鑫; 邵宗书;
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作者单位

山东大学晶体材料研究所;

山东大学晶体材料研究所;

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