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测定晶体电光系数相对符号的一种简单方法——干涉法

         

摘要

我们用一台干涉仪,以机械方法使光程发生变化,然后和晶体电光效应引起的光程变化相比较,提供了对种确定晶体电光系数相对符号的简单方法。

著录项

  • 来源
    《压电与声光》 |1988年第4期|33-34|共2页
  • 作者

    尹鑫;

  • 作者单位

    山东大学晶体材料研究所;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
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