INTEL-3000微处理机组件的测试

摘要

本文介绍采用日本“武田理研”研制的T—320测试仪,测试Intel—3000系列微处理器组件的功能和直流参数,并对测试结果作了简单分析。文中介绍的方法也适用于其它微处理器组件和一般中、大规模集成电路的测试。