晶粒长大的Monte Carlo模拟方法——递归统计法测定晶粒度

摘要

应用Monte Carlo(MC)法模拟在周期性边界条件下的晶粒长大行为.利用MC法模拟时,晶界处格点的迁移引起晶粒的长大,根据这一主要特征提出一种精确快速的测定晶粒度的新方法-递归统计法,然后采用递归统计方法测量晶粒度.结果表明,递归统计法测得的晶粒度比截点法的更精确,而且测量精确度不受模型的格点类型以及晶粒的尺寸、形状等的影响,测量速度比其他统计方法要快.