局部亚低温对大鼠全脑缺血再灌注小脑神经细胞凋亡的影响

摘要

目的:观察局部亚低温对大鼠全脑缺血再灌注小脑皮层神经细胞凋亡的影响.方法:采用闭塞大鼠四动脉建立全脑缺血模型,应用电镜及末端转移酶介导的缺口末端标记法(TUNEL染色法)观察常温组和亚低温组动物脑缺血30min再灌注7d小脑皮层神经细胞的凋亡情况.结果:常温组小脑皮层神经细胞电镜显示有明显形态学损伤,染色质凝聚、边集、电子密度增强,核呈新月形或不规则状,细胞体积变小,胞浆浓缩.TUNEL染色法示蒲肯野细胞凋亡明显,凋亡率为(43.08±11.27)%.亚低温组神经细胞结构损伤明显减轻,凋亡细胞明显减少,凋亡率为(11.56±3.72)%.两组有统计学显著性差异.结论:亚低温对大鼠全脑缺血再灌注小脑皮层神经细胞凋亡有明显的抑制作用.