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王会卿; 肖田元; 张林骀; 曾理;
清华大学自动化系国家CIMS工程技术研究中心,北京,100084;
VPD; 并行公差设计; 公差分析; 公差综合;
机译:基于bat算法的机械装配并行公差设计与优化。
机译:基于最小产品制造成本和质量损失的并行过程公差设计
机译:基于模型的虚拟产品开发:Kaiserslautern TU虚拟产品开发主席
机译:粗糙集在计算机辅助并行公差设计中的应用研究
机译:开发生产装配中的公差设计模型,并使用田口质量损失函数设计基于成本的CUSUM控制图。
机译:在计算机生成的并行峰值序列数据中检测并行突发
机译:基于制造质量损失成本时间价值的并行公差设计
机译:头盔冲击速度实验数据分析与统计公差设计
机译:并行计算机中的并行过程调度方法和并行计算机中的处理器
机译:工作流程公差设计器的系统和方法
机译:公差设计培训材料和总公差计算表
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