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何雄斌; 贾雄;
黄石第四医院,湖北,黄石,435006;
故障排除; Logiq; B超诊断仪; 轨迹球; 固定圈; 测量标尺; 检修方法;
机译:『带XDclear的LOGIQ S8』/带XDGlear2.0的『LOGIQ E9』『Invenia ABUS』
机译:「LOGIQ S8带XDCLEAR」/「logiq E9带XDGLEAR2.0」「LNVISIA」
机译:基于具有AlAsSb / GaSb超晶格势垒的Ⅱ型InAs / AISb / GaSb超晶格的扩展短波红外nBn光电探测器
机译:高温电气特性为20a,800V增强型SiC VJFET
机译:II型InAs / GaSb超晶格红外光电探测器优化和门控光电探测器阵列实现。
机译:尿激酶型纤溶酶原激活剂受体通过miR-17 / 20a抑制死亡受体4和5抑制三阴性乳腺癌的凋亡
机译:这项研究的背景是,在印度尼西亚航空高中Curug Tangerang的文凭III飞机工程学习计划(TPU学习计划)的学习飞机系统故障排除的学生中,无故障性能的表现很差。由于旨在提供学习经验的学习旨在采取正确的步骤对飞机系统进行故障排除而没有模块指导的故障,因此该学习受模拟器准备情况,学生准备情况和模块有效性的因素影响。初步研究表明,成绩不佳的原因是该模块无法指导学生正确无误地进行故障排除。这项研究的目的是确定学习疑难解答的当前状态,设计可以提高无故障性能的学习模块,制定学习步骤,进行无故障性能评估,并分析使用学习模块的影响。使用研究与开发方法论,通过初步研究,模块的计划和准备以及模块的开发和测试三个主要研究阶段,对11个批次III文凭III的56名学生进行了研究,直到发现有效地改善无故障性能的模块。更广泛的试验结果。通过与讲师的访谈,课程文件和模块的学习文件,对学生的问卷调查,学习结果测试和实际观察来进行数据收集。研究结果是一个有效的学习模块,可提高无限制性能,这是通过在有限且较宽的测试中通过统计计算t-计数t-t表显示的结果以及在每个试验阶段的平均值均得到提高而得出的。这一增加表明,新模块内容的开发将通过增加故障排除中子能力的实现,即识别损坏,确定损坏程度,消除损坏以及修理或更换零件,从而对提高无故障性能的实现产生重大而有效的影响。
机译:研究p + c(产率)(Y(sup 0)K(sup +))+ C型的相干衍射生成反应和观察新的重子态X(2050)(产率)(sigma)(1385)(sup 0)K(sup +)和X(2000)(产率)(sigma)K(sup +)
机译:仍用于通过链霉菌sp sf 2050(atcc 31450),抗生物素蛋白sf-2050b和抗菌成分-sf-2050b的链霉菌培养来预防sf 2050和/或sf-2050b
机译:抗菌物质SF-2050和SF-2050B及其生产方法。
机译:抗生素SF-2050和SF-2050B的物质及其生产和使用
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