X射线头颅侧位CCD线阵探测器与非晶硒平板探测器的比较

摘要

针对头颅侧位使用的CCD线阵探测器和非晶硒平板探测器,从参数性能、成像原理、图像质量和使用维护方面对两种类型的探测器进行了比较分析,结果显示CCD线阵探测器分辨率较高,动态范围较大,更容易维护,在成像时间和影像噪声方面的表现较非晶硒探测器逊色.