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简单反射法测量聚合物薄膜线性电光系数的研究

         

摘要

简单反射法是电光聚合物薄膜研究中测量线性电光系数(Pockels系数)的一种简单而常采用的方法,但文献中关于在调制电场作用下s光和p光光程差和位相差改变的计算有不尽完善之处,线性电光系数的表达结果也不尽相同.在充分考虑各种因素的情况下,对该方法给出了合理的理论处理,得出了简单反射法更为严格的线性电光系数表达式.并测量对比了几种聚合物线性电光系数的结果.讨论了简单反射法测量聚合物薄膜线性电光系数的局限性.

著录项

  • 来源
    《物理学报》 |2000年第2期|262-266|共5页
  • 作者单位

    山东大学晶体材料国家重点实验室,济南,250100;

    山东大学晶体材料国家重点实验室,济南,250100;

    山东大学晶体材料国家重点实验室,济南,250100;

    山东大学晶体材料国家重点实验室,济南,250100;

    山东大学晶体材料国家重点实验室,济南,250100;

    山东大学晶体材料国家重点实验室,济南,250100;

    同济大学波耳固体物理研究所,上海,200092;

    中国科学院半导体研究所,北京,100083;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 物理学;
  • 关键词

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