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双光子阵列点激发同时多维荧光信息的处理

         

摘要

五维同时荧光信息显微成像方法是一种新的荧光信息获取技术,它采用了双光子阵列点激发方式.这一方法可同时获取激发阵列点每点荧光的位置信息、荧光光谱信息和荧光寿命信息,弥补了现有荧光检测技术的不同功能信息不具有同时性的缺陷.给出了从这种技术的复合信息中提取复合光谱几何强度结构图像、不同光谱几何强度结构图像、不同光谱寿命图像的方法.提出了一种激发荧光强度修正系数矩阵方法,消除阵列点激发光强不均匀对激发荧光强弱产生的不利影响,取得明显效果.实验对实际样品做了数据采集和处理,给出图像结果,表明处理的效果良好.对存在的问题也作了讨论.

著录项

  • 来源
    《物理学报》 |2006年第12期|6701-6707|共7页
  • 作者单位

    深圳大学光电子学研究所,光电子器件与系统教育部重点实验室,广东省光电子器件与系统重点实验室,深圳,518060;

    深圳大学光电子学研究所,光电子器件与系统教育部重点实验室,广东省光电子器件与系统重点实验室,深圳,518060;

    深圳大学光电子学研究所,光电子器件与系统教育部重点实验室,广东省光电子器件与系统重点实验室,深圳,518060;

    深圳大学光电子学研究所,光电子器件与系统教育部重点实验室,广东省光电子器件与系统重点实验室,深圳,518060;

    深圳大学光电子学研究所,光电子器件与系统教育部重点实验室,广东省光电子器件与系统重点实验室,深圳,518060;

    深圳大学光电子学研究所,光电子器件与系统教育部重点实验室,广东省光电子器件与系统重点实验室,深圳,518060;

    深圳大学光电子学研究所,光电子器件与系统教育部重点实验室,广东省光电子器件与系统重点实验室,深圳,518060;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 物理学;
  • 关键词

    荧光信息处理; 双光子; 荧光光谱; 荧光寿命;

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