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高空穴浓度Mg掺杂InGaN外延材料性能的研究

         

摘要

采用金属有机物化学气相沉积方法生长得到具有不同Mg掺杂浓度InxGa1-xN (0≤x≤0.3)外延材料样品. 对样品的电学特性和光学特性进行了系统的研究. 研究发现:在固定Mg掺杂浓度下,随In组分的提高,样品空穴浓度显著提高,最高达2.4×1019cm-3,Mg的活化效率提高了近两个数量级;通过对Mg掺杂InGaN(InGaN:Mg)样品的光致发光(PL)谱的分析,解释了InGaN:Mg样品的载流子跃迁机理,并确定了样品中Mg受主激活能和深施主能级的位置.

著录项

  • 来源
    《物理学报》 |2006年第9期|4951-4955|共5页
  • 作者单位

    北京工业大学电子信息与控制工程学院,北京市光电子技术实验室,北京,100022;

    北京工业大学电子信息与控制工程学院,北京市光电子技术实验室,北京,100022;

    北京工业大学电子信息与控制工程学院,北京市光电子技术实验室,北京,100022;

    北京工业大学电子信息与控制工程学院,北京市光电子技术实验室,北京,100022;

    北京工业大学电子信息与控制工程学院,北京市光电子技术实验室,北京,100022;

    北京工业大学电子信息与控制工程学院,北京市光电子技术实验室,北京,100022;

    北京工业大学电子信息与控制工程学院,北京市光电子技术实验室,北京,100022;

    北京工业大学电子信息与控制工程学院,北京市光电子技术实验室,北京,100022;

    北京工业大学电子信息与控制工程学院,北京市光电子技术实验室,北京,100022;

    北京工业大学电子信息与控制工程学院,北京市光电子技术实验室,北京,100022;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 物理学;
  • 关键词

    Mg掺杂InGaN; 高空穴浓度; 光致发光; 金属有机物化学气相沉积;

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