扫描电镜像片的三维测定和等值线图测绘

摘要

本文叙述了利用扫描电子显微镜摄取的立体显微像片，测定石英（SiO2）微小颗粒表面的光滑度和测绘等值线图的原理和方法，推证了解算视差和高程的公式以及精度估计，介绍了用扫描电子显微镜所拍摄像片进行解析处理的某些特点。