用于构建自定义PXI仪器的适配器模块设计

摘要

本文首先叙述了测试测量领域的发展趋势及存在的一些问题，从而引出并介绍了FlexRIO测试系统。另外研究了一个基于FlexRIO的适配器模块设计的实例，即基于FlexRIO的高速 ADC性能测试系统，并且与传统测试系统进行了对比。
　　 自定义测试已经成为测试测量领域最显著的发展趋势，除了自定义的问题，目前的测试系统无法专注于应用以及难于维护升级。本文在理论研究上，通过对FlexRIO测试系统的介绍，得出了FlexRIO测试系统的特点。
　　 除了在理论上对FlexRIO测试系统进行研究外，同时也给出了FlexRIO测试系统的一个设计实例――高速ADC测试系统的设计。它是FlexRIO在半导体芯片有效性测试中的一个典型应用，设计包含了硬件电路和软件的设计以及测试系统的搭建，并且给出了测试结果。传统高速ADC测试系统的不足之处在于：需要自定制母板、编写硬件驱动，而且对于FPGA芯片的处理能力等都有较高的要求。极有可能遇到一些棘手问题，如电脑的驱动开发和应用程序的兼容问题。而基于FlexRIO的测试系统很好地解决了传统测试方法中的这些关键性问题。通过这个实例，得出了基于FlexRIO测试系统的优势，它能使开发人员能够将更多的精力放在与其目标应用直接相关的部分，从而缩短开发周期，节省开发人力成本。它是一种快速、高效，并且可靠的测试解决方案。
　　 本文的具体安排如下：第一章绪论介绍了本课题的背景，研究的意义，本课题所要完成的目标以及论文所做的工作。第二章介绍FlexRIO系统的组成部件，包括FlexRIOFPGA模块、适配器模块等，同时也介绍了图形化编程软件Labview和Labview FPGA。第三章介绍了FlexRIO在半导体芯片有效性测试中的一个典型应用，即基于FlexRIO的高速 ADC性能测试系统，包括软硬件的设计。第四章阐述了本课题所解决的技术难点和创新。

目录

文摘

英文文摘

声明

第一章绪论

第二章系统结构与工作原理

第三章基于FlexRIO 的高速ADC 性能测试系统

第四章总结

参考文献

附录

致谢

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