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第一章 绪论
1.1 近场光学显微镜简介及发展
1.1.1 近场光学的发展
1.1.2 近场光学显微镜的基本结构
1.1.3 近场光学的理论基础
1.1.4 近场光学显微镜的种类和发展
1.2 近场光学探针
1.2.1 近场光学探针的发展
1.2.2 光纤探针的演变和种类
1.2.3 光纤探针的工作方式
1.2.4 近场光纤探针的制作方式
1.2.5 近场光纤探针的金属薄膜沉积
1.3 光纤探针的性能测试
1.4 纳米光纤和近场光学显微术的应用
1.4.1 高分辨率光学成像
1.4.2 高密度信息存储
1.4.3近场光谱
1.5 本学位论文的研究目的和创新之处
1.5.1 本学位论文的研究目的
1.5.2 本学位论文的创新之处
参考文献
第二章 光纤探针的化学腐蚀
2.1 引言
2.2 材料与仪器
2.2.1 实验材料
2.2.2 试剂
2.2.3 仪器和设备
2.3 实验方法
2.3.1 静态腐蚀制备光纤探针试验方法
2.3.2 动态腐蚀制备光纤探针试验方法
2.3.3 静静结合两步法制备光纤探针试验方法
2.3.4 管式腐蚀制备光纤探针试验方法
2.4 静态腐蚀制备光纤探针结果与分析
2.4.1 温度对光子探针制备的影响
2.4.2 振动对光子探针制备的影响
2.4.3 腐蚀时间对光子探针制备的影响
2.4.4 保护层对光子探针制备的影响
2.4.5 腐蚀液对光子探针制备的影响
2.4.6 综合各因素对光纤形貌的影响及理论解释
2.5 动态腐蚀制备光纤探针结果与分析
2.5.1 静—动态腐蚀制备光纤探针
2.5.2 两步静态腐蚀制备光纤探针
2.5.3 结合静态腐蚀和动态腐蚀对蜂窝状光纤表面的理论解释
2.6 管式腐蚀制备光纤探针结果与分析
2.7 本章小结
参考文献
第三章 光纤探针的镀膜
3.1 引言
3.2 材料与仪器
3.2.1 实验材料
3.2.2 试剂
3.2.3 仪器和设备
3.3 实验方法
3.3.1 磁控溅射沉积Ni膜或ITO膜
3.3.2 化学镀银
3.4 结果与讨论
3.4.1 光纤探针上磁控溅射金属Ni的研究
3.4.2 光纤探针的银金属包覆的研究
3.5 本章小结
参考文献
第四章 光子探针的性能测试
4.1 材料与设备
4.1.1 实验材料
4.1.2 仪器与设备
4.2 测试方法与结果
4.2.1 电阻率的测定
4.2.2 通光率的测定
4.2.3 光子探针膜厚及曲率半径的测定
4.2.3 光子探针的STM图像扫描的测定
4.3 本章小结
第五章 固—液界面长链烷烃衍生物的STM研究
5.1 引言
5.2 材料与设备
5.2.1 试剂材料
5.2.2 设备
5.3 SAMs制备方法
5.3.1 HOPG基底准备:
5.3.2 自组装固—液界面单分子自组装膜制备
5.4 自组装膜的形貌与结构表征
5.5 结果与讨论
5.5.1 Distearyl 3,3’—thiodipropionate分子的空间结构
5.5.2 溶液浓度对Distearyl 3,3’—thiodipropionate分子自组装膜的影响
5.5.3 Distearyl 3,3’—thiodipropionate分子自组装膜的第一种形态
5.5.4 Distearyl 3,3’—thiodipropionate分子自组装膜的第二种形态
5.5.5 Distearyl 3,3’—thiodipropionate分子自组装膜的理论模型分析
5.6 本章小结
参考文献
结论与展望
结论
展望
攻读博士学位期间取得的研究成果
致谢