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第一章概述
1.1紫外光谱区及UV探测器
1.2 GaN材料适于紫外探测的特性
1.3 GaN材料生长方法简介
1.4 GaN基UV探测器的研究情况
1.5论文结构
第二章UV光电探测器基本结构
2.1三种实用的紫外光电探测器结构及比较
2.2倒装异质结p-i-n结构
2.3 p-i-n结构中正照式和背照式的选择问题
2.4本课题中所用的结构
第三章MOCVD外延生长GaN
3.1 MOCVD设备简介
3.2 MOCVD外延生长AlxGa1-xN/GaN简介
3.3通过渐变δ掺杂方法进行GaN的Mg掺杂
3.3.1渐变δ-Mg掺杂的基本过程
3.3.2渐变δ-Mg掺杂方法对晶体质量的影响
3.3.3渐变δ-Mg掺杂方法对晶体电学性能的影响
3.4结论
第四章GaN基UV探测器的刻蚀工艺
4.1 AlxGa1-xN/GaN p-i-n紫外探测器的制作过程
4.2探测器台阶制作工艺
4.2.1 ICP工艺参数选择原理
4.2.2 ICP刻蚀AlxGa1-xN/GaN的实验研究
4.2.3结语
第五章GaN基UV探测器欧姆接触制作工艺研究
5.1欧姆接触的电性能
5.1.1欧姆接触的定义
5.1.2电流输运机制和接触电阻的计算
5.1.3势垒高度
5.2表面处理和退火工艺对GaN基材料欧姆接触的影响
5.2.1 n-GaN情形
5.2.2 p-GaN情形
5.3薄膜材料的比接触电阻的测试方法
5.4 n-GaN欧姆接触实验研究
5.4.1实验过程
5.4.2实验结果及分析
5.5p-GaN欧姆接触实验研究
5.5.1实验过程
5.5.2实验结果及分析
5.6结语及今后的工作
第六章GaN基UV探测器的性能分析及总结
6.1 GaN基紫外光电探测器的制作
6.2测试结果及讨论
6.3总结
致谢
参考文献
硕士期间已发表的论文